md-1粉塵(chen)粒度分析儀
儀采(cai)用(yong)斯托克斯原理和比(bi)爾定(ding)律(lv)測(ce)定粉塵(chen)粒度分布（分散度）。與(yu)常規方(fang)法相比(bi)省去(qu)天(tian)平稱(cheng)重和顯(xian)微鏡(jing)數數等繁(fan)雜(za)工作。讀數直觀(guan)，測(ce)定結(jie)果自(zi)動(dong)儲存(cun)，也(ye)可(ke)由(you)用(yong)戶根(gen)據(ju)需(xu)要選擇，把(ba)結果通過(guo)顯示(shi)屏(ping)或打印(yin)機輸出(chu)。儀器具(ju)有(you)掉(diao)電保(bao)護功(gong)能，可儲存(cun)40 次粒度分布數據(ju)，儲存(cun)的數據(ju)可(ke)根據(ju)用(yong)戶意(yi)圖(tu)進行(xing)清除(chu)。是(shi)粉塵(chen)實驗(yan)室使用(yong)的理想(xiang)儀器。

md-1粉塵(chen)粒度分析儀儀采(cai)用(yong)斯托克斯原理和比(bi)爾定(ding)律(lv)測(ce)定粉塵(chen)粒度分布(分散度)。與(yu)常規方(fang)法相比(bi)省去(qu)天(tian)平稱(cheng)重和顯(xian)微鏡(jing)數數等繁(fan)雜(za)工作。讀數直觀(guan)，測(ce)定結(jie)果自(zi)動(dong)儲存(cun)，也(ye)可(ke)由(you)用(yong)戶根(gen)據(ju)需(xu)要選擇，把(ba)結果通過(guo)顯示(shi)屏(ping)或打印(yin)機輸出(chu)。儀器具(ju)有(you)掉(diao)電保(bao)護功(gong)能，可儲存(cun)40 次粒度分布數據(ju)，儲存(cun)的數據(ju)可(ke)根據(ju)用(yong)戶意(yi)圖(tu)進行(xing)清除(chu)。是(shi)粉塵(chen)實驗(yan)室使用(yong)的理想(xiang)儀器。
md-1粉塵(chen)粒度分析儀技術指標(biao)：
測(ce)定範(fan)圍：(粉塵(chen)粒度分布) 0～150μm(測(ce)定粉塵(chen)累(lei)積(ji)質(zhi)量篩上分布，粉塵(chen)粒度分級為(wei)150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1μm)
測(ce)定誤(wu)差：d<40μm時，粉塵(chen)粒度分布重復測(ce)定誤(wu)差≤10%，
測(ce)量誤(wu)差:  (120004a微(wei)粒標(biao)準(zhun)物質(zhi)為試驗(yan)粉塵(chen)) d50=10～13μm
工(gong)作電源(yuan)：220V AC
外形(xing)尺(chi)寸：(430×285×300)mm
重    量(liang)：15kg