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MD-1粒(li)度(du)分析(xi)儀(yi)價(jia)格儀(yi)采用斯(si)托克斯(si)原(yuan)理和比爾定律測定(ding)分布(bu)(分散(san)度(du))。與常規(gui)方法(fa)相(xiang)比省(sheng)去天平稱(cheng)重和顯微鏡數數(shu)等(deng)繁(fan)雜(za)工(gong)作(zuo)。讀數(shu)直觀,測定(ding)結(jie)果(guo)自動儲(chu)存(cun),也(ye)可由(you)用(yong)戶(hu)根(gen)據需(xu)要(yao)選擇(ze),把結(jie)果通(tong)過(guo)顯示(shi)屏或打印(yin)機輸出(chu)。儀(yi)器具有(you)掉(diao)電(dian)保(bao)護(hu)功(gong)能,可儲(chu)存(cun)40 次(ci)粒(li)度(du)分布(bu)數(shu)據,儲(chu)存(cun)的數(shu)據(ju)可根(gen)據(ju)用戶(hu)意圖(tu)進(jin)行(xing)清(qing)除(chu)。是粉(fen)塵(chen)實(shi)驗(yan)室使(shi)用的理(li)想(xiang)儀(yi)器。
產品(pin)型(xing)號(hao):MD-1
廠(chang)商性(xing)質(zhi):代(dai)理(li)商(shang)
更(geng)新時(shi)間(jian):2016-04-15
訪(fang) 問(wen) 量(liang):2735
立即(ji)咨詢
聯系(xi)電話(hua):023-62936468
MD-1粒(li)度(du)分析(xi)儀(yi)價(jia)格儀(yi)采用斯(si)托克斯(si)原(yuan)理和比爾定律測定(ding)粉(fen)塵(chen)粒(li)度(du)分布(bu)(分散(san)度(du))。與常規(gui)方法(fa)相(xiang)比省(sheng)去天平稱(cheng)重和顯微鏡數數(shu)等(deng)繁(fan)雜(za)工(gong)作(zuo)。讀數(shu)直觀,測定(ding)結(jie)果(guo)自動儲(chu)存(cun),也(ye)可由(you)用(yong)戶(hu)根(gen)據需(xu)要(yao)選擇(ze),把結(jie)果通(tong)過(guo)顯示(shi)屏或打印(yin)機輸出(chu)。儀(yi)器具有(you)掉(diao)電(dian)保(bao)護(hu)功(gong)能,可儲(chu)存(cun)40 次(ci)粒(li)度(du)分布(bu)數(shu)據,儲(chu)存(cun)的數(shu)據(ju)可根(gen)據(ju)用戶(hu)意圖(tu)進(jin)行(xing)清(qing)除(chu)。是粉(fen)塵(chen)實(shi)驗(yan)室使(shi)用的理(li)想(xiang)儀(yi)器。
MD-1粒度(du)分析(xi)儀(yi)價(jia)格技(ji)術指(zhi)標(biao):
MD-1測定(ding)範圍:(粉(fen)塵(chen)粒(li)度(du)分布(bu)) 0~150μm(測定(ding)粉(fen)塵(chen)累積(ji)質(zhi)量(liang)篩(shai)上(shang)分布(bu),粉(fen)塵(chen)粒(li)度(du)分級(ji)為(wei)150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1μm)
測定(ding)誤差:d<40μm時(shi),粉(fen)塵(chen)粒(li)度(du)分布(bu)重復(fu)測定(ding)誤差≤10%,
測量(liang)誤差: (120004a微粒標準物(wu)質為試(shi)驗(yan)粉(fen)塵(chen)) d50=10~13μm
工(gong)作(zuo)電源:220V AC
外(wai)形(xing)尺寸(cun):(430×285×300)mm
重 量(liang):15kg

023-62936468
86-023-62936468
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