MD-1粒(li)度(du)粒形分析(xi)儀(yi)
儀(yi)采(cai)用斯托(tuo)克(ke)斯原(yuan)理和(he)比(bi)爾定律(lv)測(ce)定分布(bu)（分散(san)度）。與常規方(fang)法(fa)相比(bi)省去天(tian)平稱(cheng)重(zhong)和(he)顯(xian)微鏡(jing)數數等繁雜工(gong)作(zuo)。讀(du)數直觀，測(ce)定結(jie)果(guo)自動儲(chu)存(cun)，也可(ke)由(you)用戶(hu)根據需(xu)要(yao)選(xuan)擇(ze)，把結果(guo)通(tong)過(guo)顯(xian)示屏(ping)或(huo)打(da)印(yin)機輸(shu)出(chu)。儀器具有掉(diao)電保(bao)護(hu)功(gong)能，可(ke)儲存(cun)40 次(ci)粒度(du)分布(bu)數據，儲(chu)存(cun)的(de)數據可(ke)根據用戶(hu)意圖進行(xing)清除。是(shi)粉塵(chen)實(shi)驗室使用的(de)理想儀器(qi)。

MD-1粒度粒(li)形分析(xi)儀(yi)儀(yi)采(cai)用斯托(tuo)克(ke)斯原(yuan)理和(he)比(bi)爾定律(lv)測(ce)定粉(fen)塵(chen)粒(li)度分布(bu)(分散(san)度)。與常規方(fang)法(fa)相比(bi)省去天(tian)平稱(cheng)重(zhong)和(he)顯(xian)微鏡(jing)數數等繁雜工(gong)作(zuo)。讀(du)數直觀，測(ce)定結(jie)果(guo)自動儲(chu)存(cun)，也可(ke)由(you)用戶(hu)根據需(xu)要(yao)選(xuan)擇(ze)，把結果(guo)通(tong)過(guo)顯(xian)示屏(ping)或(huo)打(da)印(yin)機輸(shu)出(chu)。儀器具有掉(diao)電保(bao)護(hu)功(gong)能，可(ke)儲存(cun)40 次(ci)粒度(du)分布(bu)數據，儲(chu)存(cun)的(de)數據可(ke)根據用戶(hu)意圖進行(xing)清除。是(shi)粉塵(chen)實(shi)驗室使用的(de)理想儀器(qi)。
MD-1粒度(du)粒形分析(xi)儀(yi)技(ji)術(shu)指(zhi)標(biao)：
MD-1測定範圍：(粉塵粒(li)度(du)分布(bu)) 0～150μm(測定粉(fen)塵(chen)累(lei)積質量(liang)篩(shai)上分布(bu)，粉塵(chen)粒(li)度(du)分級(ji)為(wei)150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1μm)
測(ce)定誤(wu)差(cha)：d<40μm時(shi)，粉(fen)塵粒度分布(bu)重復(fu)測(ce)定誤(wu)差(cha)≤10%，
測(ce)量誤(wu)差(cha):  (120004a微粒(li)標(biao)準(zhun)物(wu)質為(wei)試驗(yan)粉(fen)塵) d50=10～13μm
工(gong)作(zuo)電(dian)源：220V AC
外(wai)形尺(chi)寸(cun)：(430×285×300)mm
重(zhong)    量(liang)：15kg