MD-1顆粒(li)度(du)分析(xi)
儀采(cai)用斯托(tuo)克斯(si)原理和比爾(er)定律(lv)測定(ding)分布（分散度(du)）。與常規(gui)方法(fa)相(xiang)比省(sheng)去天(tian)平(ping)稱(cheng)重(zhong)和顯(xian)微(wei)鏡(jing)數(shu)數(shu)等(deng)繁(fan)雜工(gong)作(zuo)。讀(du)數(shu)直觀(guan)，測定(ding)結(jie)果自動儲存，也可由用戶根(gen)據(ju)需要選擇(ze)，把結(jie)果通(tong)過顯(xian)示屏(ping)或打印機輸(shu)出(chu)。儀(yi)器(qi)具有掉電保護功(gong)能(neng)，可(ke)儲(chu)存40 次(ci)粒(li)度(du)分布數(shu)據(ju)，儲(chu)存的(de)數(shu)據(ju)可(ke)根(gen)據(ju)用戶意(yi)圖(tu)進(jin)行(xing)清(qing)除。是粉(fen)塵實(shi)驗(yan)室使用的(de)理(li)想(xiang)儀器(qi)。

MD-1顆(ke)粒(li)度(du)分析(xi)儀采(cai)用斯托(tuo)克斯(si)原理和比爾(er)定律(lv)測定(ding)粉(fen)塵粒(li)度(du)分布(分散度(du))。與常規(gui)方法(fa)相(xiang)比省(sheng)去天(tian)平(ping)稱(cheng)重(zhong)和顯(xian)微(wei)鏡(jing)數(shu)數(shu)等(deng)繁(fan)雜工(gong)作(zuo)。讀(du)數(shu)直觀(guan)，測定(ding)結(jie)果自動儲存，也可由用戶根(gen)據(ju)需要選擇(ze)，把結(jie)果通(tong)過顯(xian)示屏(ping)或打印機輸(shu)出(chu)。儀(yi)器(qi)具有掉電保護功(gong)能(neng)，可(ke)儲(chu)存40 次(ci)粒(li)度(du)分布數(shu)據(ju)，儲(chu)存的(de)數(shu)據(ju)可(ke)根(gen)據(ju)用戶意(yi)圖(tu)進(jin)行(xing)清(qing)除。是粉(fen)塵實(shi)驗(yan)室使用的(de)理(li)想(xiang)儀器(qi)。
MD-1顆粒(li)度(du)分析(xi)技術(shu)指(zhi)標(biao)：
MD-1測定(ding)範(fan)圍(wei)：(粉(fen)塵粒(li)度(du)分布) 0～150μm(測定(ding)粉(fen)塵累積(ji)質(zhi)量(liang)篩(shai)上(shang)分布，粉(fen)塵粒(li)度(du)分級(ji)為150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1μm)
測定(ding)誤(wu)差：d<40μm時，粉(fen)塵粒(li)度(du)分布重復(fu)測定(ding)誤(wu)差≤10%，
測量(liang)誤(wu)差:  (120004a微粒(li)標(biao)準(zhun)物質(zhi)為(wei)試(shi)驗(yan)粉(fen)塵) d50=10～13μm
工(gong)作(zuo)電源：220V AC
外(wai)形(xing)尺寸(cun)：(430×285×300)mm
重(zhong)    量：15kg