MD-1粒度分(fen)析(xi)儀(yi)廠(chang)家(jia)
采(cai)用斯托(tuo)克(ke)斯原(yuan)理(li)和比(bi)爾(er)定律測(ce)定分(fen)布(bu)（分(fen)散(san)度）。與常(chang)規(gui)方法(fa)相比(bi)省(sheng)去(qu)天(tian)平(ping)稱(cheng)重(zhong)和顯微(wei)鏡數數等(deng)繁(fan)雜工作。讀(du)數直觀，測(ce)定結果自(zi)動儲存(cun)，也可(ke)由用戶(hu)根(gen)據(ju)需(xu)要(yao)選擇，把(ba)結果通(tong)過(guo)顯示屏或打(da)印(yin)機(ji)輸出(chu)。儀(yi)器(qi)具(ju)有掉(diao)電保護(hu)功(gong)能，可(ke)儲存40 次(ci)粒度分(fen)布(bu)數據(ju)，儲(chu)存(cun)的(de)數據(ju)可(ke)根(gen)據(ju)用戶(hu)意圖(tu)進(jin)行(xing)清(qing)除(chu)。是(shi)粉(fen)塵(chen)實(shi)驗室(shi)使(shi)用的(de)理想儀(yi)器(qi)。

MD-1粒度分(fen)析(xi)儀(yi)廠(chang)家(jia)

采(cai)用斯托(tuo)克(ke)斯原(yuan)理(li)和比(bi)爾(er)定律測(ce)定粉(fen)塵(chen)粒度分(fen)布(bu)(分(fen)散(san)度)。與常(chang)規(gui)方法(fa)相比(bi)省(sheng)去(qu)天(tian)平(ping)稱(cheng)重(zhong)和顯微(wei)鏡數數等(deng)繁(fan)雜工作。讀(du)數直觀，測(ce)定結果自(zi)動儲存(cun)，也可(ke)由用戶(hu)根(gen)據(ju)需(xu)要(yao)選擇，把(ba)結果通(tong)過(guo)顯示屏或打(da)印(yin)機(ji)輸出(chu)。儀(yi)器(qi)具(ju)有掉(diao)電保護(hu)功(gong)能，可(ke)儲存40 次(ci)粒度分(fen)布(bu)數據(ju)，儲(chu)存(cun)的(de)數據(ju)可(ke)根(gen)據(ju)用戶(hu)意圖(tu)進(jin)行(xing)清(qing)除(chu)。是(shi)粉(fen)塵(chen)實(shi)驗室(shi)使(shi)用的(de)理想儀(yi)器(qi)。

MD-1粒度分(fen)析(xi)儀(yi)廠(chang)家(jia)技(ji)術指(zhi)標(biao)：

MD-1

測(ce)定範圍：

      (粉(fen)塵(chen)粒度分(fen)布(bu)) 0～150μm(測(ce)定粉(fen)塵(chen)累(lei)積質(zhi)量(liang)篩上(shang)分(fen)布(bu)，粉(fen)塵(chen)粒度分(fen)級為150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1μm)
測(ce)定誤(wu)差：d<40μm時(shi)，粉(fen)塵(chen)粒度分(fen)布(bu)重(zhong)復測(ce)定誤(wu)差≤10%，
測(ce)量(liang)誤(wu)差:  (120004a微(wei)粒標(biao)準物(wu)質(zhi)為(wei)試驗(yan)粉(fen)塵(chen)) d50=10～13μm
工作電源：220V AC
外形(xing)尺寸(cun)：(430×285×300)mm
重(zhong)    量(liang)：15kg